86-411-84379657

实验装置

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高压时间分辨荧光光谱测量系统


功能:可以探测金刚石对顶砧中样品的稳态和瞬态荧光光谱,其具有显微成像的功能可以进行微区(5μm)时间分辨光谱的探测。根据不同的激发光源,可以进行样品的时间分辨荧光和磷光动力学衰减曲线测量。


技术参数:

激发光源:378nm (20 ps) 荧光测试;355 nm (5 ns) 磷光测试

时间分辨率:25 ps

探测时间范围:8.19 μs-17.1 s

波长范围:400 nm-1100 nm

空间分辨:5 μm

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